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Défis de l'intégration en EMC

Défis de l'intégration en EMC

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Le développement de l'électronique embarquée dans les applications aérospatiales, ou automobile, conduit à l'augmentation des performances des circuits intégrés, et à des prix attractifs avec des solutions d'offre technique de fabricants de composants et de compétitivité économique. Cependant, cette évolution rapide nécessite une remise en cause des méthodes permanentes d'intégration et de conception équipements / systèmes qui doivent garantir la maîtrise des comportements en milieu sévère. En particulier, le contrôle de la compatibilité électromagnétique «CEM» est important des défis réussis de la technologie d'intégration et d'évolution.

Mots Clés:
Compatibilité électromagnétique, circuit intégré, modélisation, immunité, caractérisation des émissions, vieillissement, fiabilité électromagnétique, systèmes embarqués, IEC-62433

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